四點探針台台體(SR-4)
表面電阻率測試、
薄膜切片電阻率測試、
半導體摻雜特性的測試、
金屬層厚度的測試、
測試半導體類型:P型 N型、
電壓/電流的測試
特點:
- 可垂直上下移動
- 特殊恆定負載的彈簧探針
- 恆定的探針間距
- 可保持極大程度的重複性測試
- 探頭方便更換
- 探針台頂部可調整Z軸移動
- 穩固的連接線在探針台後面
- 轉接頭可選擇:Banana/ BNC/ Triaxial Female
- 夾頭可快速移動
- 可以配合加熱吸盤使用
- 夾頭尺寸可以選擇:6英寸、8英寸、12英寸
- 氣動的SR-4可用開關控制升降
應用:
- 表面電阻率測試
- 薄膜切片電阻率測試
- 半導體摻雜特性的測試
- 金屬層厚度的測試
- 測試半導體類型:P型/N型
- 電壓/電流的測試
詳細說明:
- 夾頭尺寸可選擇:6英寸、8英寸、12英寸;材料;特氟龍
- 探針升降長度:10毫米
- 探針台Z軸升降精度為:1微米
- 探針材質:碳化鎢、鈹銅合金
- 探針距離:40mil、50mil、62.5mil
- 彈簧探針力度:45grams、85grams、180grams
- 探針直徑:40.6微米
規格:
- 尺寸:220mm長x420mm寬x250mm高
- 重量:20Kg