四點探針台台體(SR-4)

表面電阻率測試、

薄膜切片電阻率測試、

半導體摻雜特性的測試、

金屬層厚度的測試、

測試半導體類型:P型 N型、

電壓/電流的測試

特點:

  •    可垂直上下移動
  •    特殊恆定負載的彈簧探針
  •    恆定的探針間距
  •    可保持極大程度的重複性測試
  •    探頭方便更換
  •    探針台頂部可調整Z軸移動
  •    穩固的連接線在探針台後面
  •    轉接頭可選擇:Banana/ BNC/ Triaxial Female
  •    夾頭可快速移動
  •    可以配合加熱吸盤使用
  •    夾頭尺寸可以選擇:6英寸、8英寸、12英寸
  •    氣動的SR-4可用開關控制升降

應用:

  •    表面電阻率測試
  •    薄膜切片電阻率測試
  •    半導體摻雜特性的測試
  •    金屬層厚度的測試
  •    測試半導體類型:P型/N型
  •    電壓/電流的測試

詳細說明:

  •    夾頭尺寸可選擇:6英寸、8英寸、12英寸;材料;特氟龍
  •    探針升降長度:10毫米
  •    探針台Z軸升降精度為:1微米
  •    探針材質:碳化鎢、鈹銅合金
  •    探針距離:40mil、50mil、62.5mil
  •    彈簧探針力度:45grams、85grams、180grams
  •    探針直徑:40.6微米

規格:

  •    尺寸:220mm長x420mm寬x250mm高
  •    重量:20Kg