Axiocam 705 pol (偏光專用)

全方位單次擷取,材料應力與晶相分析的革命性工具

搭載偏光 CMOS 感測器,將 0°~ 135° 的偏光過濾器整合。無需旋轉檢偏鏡,即可在單次曝光中獲取完整偏光參數,包括偏光度與偏光角,大幅度提升分析效率。

單次拍攝即可實現全參數偏振成像

感測器上的每個像素單元由四個方向(0°, 45°, 90°, 135°)的納米級偏光濾鏡組成。這項技術讓您只需對觀察視野進行一次曝光,便能自動解算出偏振角度與直線偏振度,無需繁瑣的檢偏鏡旋轉流程,極大化提升實驗通量。

HSV 色彩空間視覺化分析 (Color Coding)

透過 ZEISS ZEN 軟體,相機能將擷取到的數據編碼為偽彩色影像:以色調(Hue)代表偏振角度、飽和度(Saturation)代表偏振度、明亮度(Value)代表強度。這種直觀的 HSV 視覺化方式,能讓材料中的晶向細節與應力分佈一目了然。

高動態範圍 (HDR) 與極低雜訊

針對偏光觀察中常見的極高對比度樣本(如岩石薄片或透明塑料應力),Axiocam 705 pol 提供 1:25,000 的超高動態範圍與低讀出雜訊。搭配主動式降溫技術,確保在分析微弱雙折射訊號時,數據依然精確且背景純淨。

硬體觸發與極致空間解析度

每個偏光像素單元僅 6.9 μm,確保在高倍率下仍具備卓越的空間解析力。內建硬體觸發功能,可將偏光成像完美整合至自動化多維度實驗流程中,實現即時且精準的偏振監控。

Axiocam 705 pol (數位偏光專用型)

  • 獨家技術:整合 4 向偏光過濾矩陣的 CMOS 感測器。
  • 核心應用:塑膠射出應力分析、地質岩片鑑定、液晶結構研究、金屬與礦物晶相分析。
  • 數位優勢:單次拍攝即可產出偏光度 (DoP) 與方位角影像。
  • 硬體規格:支援 USB 3.0 高速傳輸與主動降溫 18°C。
技術參數規格 (Technical Data)
感光元件 (Sensor) Sony CMOS (Polarization, Global Shutter)
偏光方向 0°, 45°, 90°, 135° (像素級矩陣)
有效畫素 2464 (H) x 2056 (V), 5.07 Megapixels
像素尺寸 3.45 μm x 3.45 μm
影格率 (Max Frame Rate) 30 fps (5 MP 全解析度)
冷卻技術 (Cooling) 主動式熱電冷卻 (18 °C)
位元深度 (ADC) 12 bit
消光比 (Extinction Ratio) 典型值 > 30 : 1 (取決於波長)
數據介面 USB 3.0 (含數據與供電)
支援軟體 ZEN 3.0 (blue edition) 或更新版本


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