Axiolab 5 金相顯微鏡系列

ZEISS Axiolab 5 是專為日常材料分析和品管設計的智慧型顯微鏡。

核心優勢在於一鍵數位化影像擷取,無需額外連接電腦即可輕鬆獲得帶有尺規資訊的高畫質影像,大幅提升工作效率。

系統完整支援明視野、暗視野、DIC 及專業偏光等對比技術,是金相、礦物分析和工業檢測的絕佳工具。

✨ 核心特色:智慧化與高效率的材料分析解決方案

  • 獨立智慧影像擷取 (Smart Microscopy): 搭配 Axiocam 208 color 數位相機,操作人員只需按下機身快門鍵,系統即會自動優化參數並儲存影像。完全不需電腦,大幅簡化工作流程。
  • IC²S 優化光學與 LED 光源管理: 採用 IC²S 無限遠色差校正系統,視野數達 **23 mm 寬視野**,搭配光強管理 (Light Manager) 功能,確保影像穩定、真實。
  • 優異人因工程設計: 所有主要操作旋鈕均設計在符合人體工學的理想位置,適合長時間的常規檢測,降低操作疲勞。

📘 應用情境、對比技術與分析能力

一、 多元反射光對比技術與金相應用 (Axiolab 5 Mat)

ZEISS Axiolab 5 Mat 金相機型圖片

Axiolab 5 Mat (金相配置) 產品圖

Axiolab 5 的多功能反射光系統,可精確分辨金屬電子元件陶瓷等各種材料的微觀結構:

核心對比技術與定量分析
  • 對比技術: 明視野暗視野DIC (微分干涉對比)
  • 金相標準分析: 依循 ASTMISO 等規範,進行晶粒尺寸相含量孔隙率和非金屬夾雜物評級。
  • 工業檢測: 適用於電子元件 (PCB)、焊接點、以及鍍層與塗層厚度的精確測量。

二、 專業偏光 (POL) 應用與礦物地質學 (Axiolab 5 POL)

ZEISS Axiolab 5 POL 偏光機型圖片

Axiolab 5 POL (偏光配置) 產品圖

Axiolab 5 POL 機型配備專業偏光光學元件,是岩礦光學晶體各向異性材料分析的理想選擇:

POL 專用功能與應用情境
  • 完整偏光系統: 配備帶有刻度的旋轉圓形載物台可調式偏光鏡波長補償器 (Retarders)
  • 岩礦地質學: 用於鑑定礦物薄片中的雙折射率、解理、消光角等專業參數。
  • 失效分析: 檢測玻璃聚合物、光學元件內部因製程或外力造成的殘餘應力分佈。

📊 關鍵機型規格細節比較 (Axiolab 5 Mat vs. Pol)

Axiolab 5 根據應用需求提供多種配置,以下列出主要材料學應用機型的關鍵差異:

規格項目 Axiolab 5 Mat (金相/材料) Axiolab 5 POL (專業偏光)
基礎光學規格
光學系統 IC²S 無限遠色差校正系統 IC²S 無限遠色差校正系統
最大視野數 (F.O.V.) 23 mm 23 mm
物鏡轉盤 5x H M27 螺紋 5x H M27 螺紋
物鏡系列 EC Epiplan (金相專用) EC Epiplan & EC Plan-Neofluar Pol
載物台與對焦
載物台類型 手動機械式載物台 (75 x 50 mm) 帶刻度旋轉圓形載物台 (專業偏光必備)
Z軸對焦行程 30 mm (粗調與微調) 30 mm (粗調與微調)
對比技術與功能
反射光主要對比 明視野、暗視野、DIC、C-DIC 明視野、暗視野、DIC、C-DICPol (專業偏光)
偏光裝置 可選配簡易型 內建可調式偏光鏡系統、可選式檢測器 (Retarders)
編碼與數位化 編碼物鏡轉盤一鍵拍照按鈕 編碼物鏡轉盤一鍵拍照按鈕
光源類型 高效率長壽命 LED 10W 高效率長壽命 LED 10W