BX53P－研究級偏光顯微鏡

配專業偏光套件而成全新機型
適用於地球科學與化學材料等研究

BX53P 偏光顯微鏡以 UIS2 無限校正光學和先進的光學設計相結合，為偏光光學應用提供卓越的性能，該顯微鏡具有相當高的系統彈性，可透過一系列的補償器來處理任何領域的觀察和測量應用。

內建勃氏鏡的錐光及直射光觀察法

搭配相關組件，切換錐光（Conoscopic）及直射光（Orthoscopic）觀察非常簡單，可以觀察到清晰的後成焦面干涉圖形，勃氏鏡（Bertrand Lens）則使錐光觀察系統能穩定得獲得銳利影像。

低應力殘留物鏡

採用 EVIDENT 最新 UIS2 系列中 UPLFL-P 及 ACHN-P 的無殘留應力系列物鏡，將光學鏡片內部殘留應力減至最低，並重新設計了新的聚光鏡及偏光鏡等光學元件，提供最佳的 EF 值。

* EF 值為起偏鏡與檢偏器在平行時與正交時的亮度比。

UPLFLN-P 系列物鏡

物鏡 NA 工作距離 (W.D.)
UPLFLN 4XP 0.13 17.0 mm
UPLFLN 10XP 0.30 10.0 mm
UPLFLN 20XP 0.50 2.1 mm
UPLFLN 40XP 0.75 0.51 mm
UPLFLN 100XOP 1.30 0.2 mm

齊全的補償器

提供了六種不同的補償器，用於測量岩石和礦物薄片中的雙折射，測量的延遲範圍從 0 到 20λ，為了更輕鬆的測量和高對比度的影像，可以使用 Berek 和 Sénarmont 補償器，改變整個視場的延遲程度。

補償器 測量範圍 應用
厚 Berek (U-CTB) 0–11000 nm (20λ) 測量高延遲級 (R*>3λ)，如晶體、高分子、纖維等
Berek (U-CBE) 0–1640 nm (3λ) 測量延遲級，如晶體、高分子、生物等
Senarmont 補償器 (U-CSE) 0–546 nm (1λ) 測量延遲級，如晶體、生物等；增強圖像對比度，如生物等
Brace-Koehler 補償器 1/10λ (U-CBR1) 0–55 nm (1/10λ) 測量低延遲級，如生物等
Brace-Koehler補償器
1/30λ (U-CBE2)		 0–20 奈米 (1/30λ) 影像對比度的測量（生物體等）
石英楔 (U-CWE2) 500–2200 nm (4λ) 近似測量延遲級，如晶體、高分子等

*R = 延遲級 為了更準確的測量，我們建議補償器（除 U-CWE2 外）
與 45-IF546 干涉濾光片一起使用

觀察方法 透射光觀察 V
偏光觀察 V
簡單偏光觀察 V
對焦 機械對焦 檯面對焦 V
平台 機械式平台 精密可旋轉平台 旋轉：360 度
聚光器 手動 偏光用聚光鏡 NA 0.9 / W.D. 1.3 mm（玻片 1.5 mm）（4X-100X）
觀察鏡筒 寬視野（FN 22） 三眼 V
傾角式三眼 V
尺寸（W × D × H） 274（寬）x 436（深）x 535（高）mm
重量 16 Kg

 

項目 共軛和正交觀察 (U-CPA) 正交觀察 (U-OPA)
偏光光學中間附件

U-CPA 或 U-OPA

 視場數 (FN) 22 22
Bertrand 鏡頭 可調焦 —
Bertrand 光闌 直徑 3.4 mm (固定) —
接合或脫離勃氏鏡更換正交和之間錐光觀察 滑桿位置  ● 內

滑桿伸出位置 ○ 外

 —
分析儀插槽 可旋轉分析儀帶插槽 (U-AN360P)
分析儀 (U-AN360P) 360° 可旋轉，最小角度：0.1°
可中心定位的轉盤物鏡轉換器 (U-P4RE) 四孔，1/4 波長延遲板 (U-TP137)，染色板 (U-TP530)，各種補償器可通過板適配器 (U-TAD) 安裝
平台 (U-SRP) 偏光旋轉平台，具有 3 點定位功能；360° 旋轉，可鎖定任意位置，360° 分度，以 1° 為增量刻度 (使用游標尺，最小延遲分辨率為 6′)；45° 點止功能；可安裝切片夾 (U-SCB2) 和機械平台 (U-FMP)
聚光器 (U-POC-2) 消色差減應變聚光器 (U-POC-2)，360° 可旋轉偏振片，帶擺出消色差頂透鏡，在“0°”位置點止可調；數值孔徑 (NA)：0.9 (頂透鏡在位)，0.18 (頂透鏡擺出)，光圈葉片：直徑可調節範圍 2 mm 到 21 mm