經過改進的光學性能

以獨特的高數值孔徑和長工作距離設計理念而著稱的Nikon CFI60 光學系統，經過進一步改進後，現在具有一流的長工作距離、色差校正性能和更輕的重量。

輕鬆的操作

現可使用數位控制裝置來檢測包括物鏡資訊在內的顯微鏡資訊，以及對顯微鏡進行電動操作，以更高效地進行觀察和影像拍攝。

觀察方法

可支援多種觀察方法：明場、暗場、偏光、DIC、螢光和雙光束干涉測量觀察功能。此外，LV100DA和LV100DA-U還可提供透射型DIC、暗場、偏光和相對觀察功能。