SG-XYM系列金相顯微鏡
提供優越的圖像品質和穩固可靠的機械結構;
操作簡便,附件齊全,廣泛應用于教學科研金相分析、
半導體矽晶片檢測、位址礦物分析、精密工程測量等領域
■光學系統:無限遠色差校正光學系統(CSIS),像質更好,解析度更高,觀察
更舒適。
■目鏡及物鏡:高眼點、超寬視野平場目鏡,PL10x/22mm,提供更加寬闊平坦的觀察空間並可加裝用於測量的各類測微尺,無限遠平場消色差超長工作距專業金相物鏡,無蓋玻片設計。
■觀察筒:鉸鏈式雙目/三目/數碼一體化觀察筒,視度可調節,30°傾斜,可進行攝影攝像,對觀察圖像進行採集和保存,配置電腦和專業軟體實現圖像分析。
■調焦機構:低手位粗微調同軸調焦機構,粗調行程28mm,微調精度0.002mm,帶有平臺位置上下調節機構,樣品高度可達50mm(反射)、30mm(透反射),帶有粗調鬆緊調節裝置和隨機限位元裝置。
■照明系統:反射照明器帶斜照明裝置,可以再觀察細微組織結構時產生浮雕立體的特殊觀察效果,自我調整90V-240V寬電壓,單顆3WLED高亮度冷光源。
光學系統 |
無限遠色差校正光學系統 |
觀察筒 |
鉸鏈式雙目頭,30°傾斜,可360o旋轉,瞳距調節範圍:54-75mm,單邊視度調節±5 |
鉸鏈式三目頭,分光比:雙目100%,雙目:三目=50%:50% | |
目鏡 |
高眼點大視野平場目鏡PL10X22mm |
高眼點大視野平場目鏡PL15X/16mm | |
物鏡 |
無限遠長工作距平場消色差金相物鏡: LMPL5X /0.15 /WD10.8 LMPL10X/0.3 /WD10 LMPL20X/0.45 /WD4 無限遠長工作距平場半複消金相物鏡: LMPLFL50X/0.55 /WD7.8 LMPLFL100X/0.80 /WD2.1 |
轉換器 |
5孔內傾式轉換器 |
調焦機構 |
反射式機架,低手位粗微同軸調焦機構。粗調行程28mm,帶平臺位置上下調節機構,最大樣品高度50mm,微調精度0.002mm.帶有防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置 |
透反兩用機架,低手位粗微同軸調焦機構。粗調行程28mm,帶平臺位置上下調節機構,最大樣品高度30mm,微調精度0.002mm.帶有防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置.帶12V 50W透射光照明系統.上下光可獨立控制. | |
載物台 |
175×145mm雙層複合機械平臺,可拆卸;平臺經過特殊工藝處理,防腐耐磨.,移動範圍76mmX50mm,配反射用金屬載物台板 |
175×145mm雙層複合機械平臺,可拆卸;平臺經過特殊工藝處理,防腐耐磨.,移動範圍76mmX50mm,配透、反兩用玻璃載物台板 | |
反射照明系統 |
反射照明器,柯拉照明系統,帶視場光闌與孔徑光闌,中心可調;帶斜照明裝置,自我調整90V-240V寬電壓輸入,單顆大功率3W LED,預定中心,亮度連續可調 |
透射照明系統 |
90-240V寬電壓,12V50W鹵素燈箱,燈絲中心可調,搖出式消色差聚光鏡(N.A 0.7) |
偏光裝置 |
起偏鏡 |
固定式檢偏鏡/可360度旋轉式檢偏鏡 | |
濾色片 |
反射用干涉濾光片:藍色?480/綠色520-570/紅色630-750/色平衡片(白光) |
透射用:黃/綠/藍/中性 | |
攝影裝置 |
攝影接筒(帶PK卡口),3.2X攝影目鏡 |
攝像裝置 |
0.35X/0.5X/1.0X C型攝像接筒 |