卓越的無應力光學系統 (Strain-free Optics)

搭載 Zeiss 著名的 ICCS 無限遠色差校正光學系統，所有物鏡與光路元件均經過嚴格的無應力處理。這確保了在觀察雙折射材料時，能消除內部應力造成的干擾，真實呈現礦物與聚合物的干涉色與消光現象，對於低光程差的樣品分析至關重要。

快速切換錐光觀察 (Conoscopy)

專為地質學家設計的優化光路，僅需單次操作即可快速切換正視 (Orthoscopy) 與錐光 (Conoscopy) 模式。內建勃氏鏡 (Bertrand lens) 與居中調整功能，讓您能立即觀察干涉圖，精準判斷晶體的單軸/雙軸光性及光軸角。

智慧型編碼與組件識別 (ACR)

系統可自動識別物鏡與濾鏡轉盤位置 (Automatic Component Recognition)，並將倍率與照明條件自動存入影像元數據 (Metadata) 中。這不僅避免了人為紀錄錯誤，在更換物鏡時，光強管理器 (Light Manager) 更會自動調整至預設亮度，保護眼睛並提升工作效率。

靈活的擴充性與補償器

支援多種標準與高階補償器（如 Lambda、Lambda/4、Quartz wedge、Tilting compensator 等），適用於精確的光程差測量。360° 旋轉載物台具備高精度游標尺與每 45° 定位功能，滿足各類偏光量測需求。

Axio Imager A2 (Manual/Coded)

• 定位：高性價比的研究級偏光顯微鏡，適合教學與常規實驗室分析。
• 對焦驅動：手動對焦 (Manual Z-drive)，提供粗調與微調旋鈕。
• 編碼功能：配備編碼物鏡轉盤，軟體可讀取倍率資訊並自動校正比例尺。
• 應用場景：基礎岩石薄片觀察、大學地質教學、石棉檢測。

Axio Imager M2 (Motorized)

• 定位：自動化研究系統，提升重複性工作流程的效率。
• 對焦驅動：電動 Z 軸驅動 (Motorized Z-drive)，支援高精度自動對焦與 Z-stack 拍攝。
• 自動化功能：光強自動管理、電動光路切換 (RL/TL)，可自動切換偏光鏡與分析鏡。
• 應用場景：大量樣品篩檢、需要長時間縮時攝影的材料研究。

Axio Imager Z2 (High-end Motorized)

• 定位：旗艦級系統，專為最高精度與複雜成像需求設計。
• 對焦驅動：超高精度電動 Z 軸 (10 nm step size)，確保最完美的景深合成與 3D 重建。
• 擴充性：支援全自動 ACR 識別系統，並可整合高效能掃描平台。
• 應用場景：頂尖學術研究、複雜礦物定量分析、數位地質博物館建置。

技術規格表